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用於SoC設計的DFT和BIST
可測性設計(DFT)和內置自檢(BIST)技術對系統級晶片(SoC)的設計非常重要，在進行電路設計的早期就引入DFT和BIST，可以提高測試的錯誤覆蓋率，縮短設計周期，加快產品的面市速度。
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