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[ 2008年7月9日 ]


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系統級晶片設計初期的測試規劃策略

系統級晶片(SoC)的特點與眾不同，主要體現在如下多個方面：用戶定義的各種邏輯、大型記憶體陣列、內核、IP、可程式邏輯、微型宏以及散佈在各種模組中的數百種不同種類的小型儲存單元。SoC的基礎是深次微米製程，晶片中門的長度僅為0.3微米或更細，因此，對Soc器件的測試需要採用一種全新的方法。

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