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[ 2008年7月24日 ]


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系統級晶片開發需要優先解決易測性設計問題

從根本上講，複雜系統級晶片的測試與驗証問題與CMOS技術以前一直推測的物理極限存在衝突。在設計系統級晶片時，設計人員需要處理數百萬閘線路的設計，但即使解決了複雜的線路設計，設計好的電路仍然需要進行驗証和測試，這時候就會出現半導體物理方面的問題，為已十分複雜的系統增添許多不希望看到的物理效應。

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