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[ 2008年7月7日 ]


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用自動光學檢查實現即時統計製程控制

引言：自動光學檢查(AOI)已成為有效的過程控制工具,使用AOI的好處有很多，例如可以提高在線測試(ICT)或功能測試的良率、降低目檢和ICT的人工成本、避免使ICT成為產能瓶頸甚至取消ICT、縮短新產品產能提升周期以及藉由統計製程控制(SPC)和統計品質控制(SQC)改善制程良率等等。本文將重點介紹如何利用AOI進行即時統計製程控制。

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