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加強記憶體測試避免可測性設計錯誤


微電子技術正變得越來越複雜，使得缺陷數量(不管是由於人為原因還是晶片原因產生的)不斷上升。如果在設計階段對缺陷產生視而不見，會使設計進入困境。本文介紹如何加強嵌入式記憶體的測試，從而避免可測性設計錯誤。

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