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透過噪聲分析發現隱藏的時序錯誤


當前複雜IC設計已進入超深次微米(UDSM)階段(0.18μm以下)，設計人員必須要採用能對噪聲進行處理的分析方法，這樣才能在UDSM單晶片系統上獲得時序收斂。在這種超高密度高速SoC環境下，測量串擾的影響對於確定設計能否在所要求的性能水平正常工作是非常重要的。

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