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[ 2008年7月7日 ]


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嵌入式半導體元件混合信號測試策略

混合信號技術給當今的半導體製造商們帶來了很多新挑戰，以前一些對數位電路只有很小影響的缺陷如今在嵌入式元件中卻可能大大改變類比電路的功能，導致元件無法使用。為確保這些新型半導體元件達到‘無缺陷’水準，需要開發新的測試策略、方法與技術。本文詳細討論混合信號半導體元件測試技術基本構建模組，並以實例介紹混合信號的系統化測試方法。

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