登錄電子工程專輯網站，時刻處於電子設計的潮流尖端 .

首頁 |

登錄 | 現在註冊

[ 2008年7月25日 ]


用戶登錄	首頁 / 用戶登錄

在設計中遵循DFT規則　提高錯誤檢測覆蓋率

目前已發表了大量文獻，介紹提高錯誤檢測覆蓋率所需的可測性設計(DFT)規則，但如果最初錯誤檢測覆蓋範圍就非常低，以至不能接受又怎麼辦呢？在這方面幾乎沒有任何資料討論如何系統快速地對結果進行分析，以及如何增加檢測範圍百分比。本文介紹ASIC設計全掃描檢測的覆蓋範圍分析和模擬，同時這部份內容也同樣適合於其它類型IC設計，如FPGA等。

請登陸網站閱讀全文>>

電子信箱

密碼

登入密碼區分大小寫

記住我的密碼忘記密碼?

如果您已經是電子工程專輯旗下網站的註冊用戶，請使用您原有的註冊帳號登入，無須再次註冊

電子工程專輯旗下網站：

• 電子工程專輯英文版 • 電子工程專輯印度版 • 電子工程專輯簡體中文版 • 電子工程專輯韓文版
• 手機設計 • 汽車電子設計 • 媒體播放器 • 電源系統
• 工業控制 • 模擬混合信號 • 家用娛樂系統 • Embedded Design India
• Power Design India

最新信息

•
產學合作　NI與台大打造數位虛擬實驗室 (2008-07-25)

•
Supple打造個人化使用者介面 (2008-07-25)

•
牛津半導體推出NAS和DAS晶片解決方案平台 (2008-07-25)

•
Wind River發表可延展的分散式測試自動化方案 (2008-07-25)

•
完全隔離型表面安裝RS-232收發器單晶片 (2008-07-25)

•
日立數據系統獲SAP整合認證 (2008-07-25)

•
Maxim推出高壓、高速MOSFET驅動器 (2008-07-25)

•
IIC-Twian：MontaVista推三版本Linux (2008-07-25)

專題總匯

• 設計揭密

• 設計技巧

• 關鍵數據

• 線上專題

• 技術廣角

• 下載中心

• 活動訊息

• 展會報導

熱門關鍵字

• RFID

• 數位相框

• gphone

• LED

• WiMax

• MEMS

• 太陽能電池

返回頁首

eMedia Asia	EE Times - Asia \| EE Times - India \| \| \| IIC-Taiwan
環球資源	\| \| \| Electronic Components \| Computer Products \| Trade Show Center \| China Sourcing Fairs
TechInsights	EE Times \| ESM Online

RSS 新聞閱讀器