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測試成本已成為晶片設計成本的主要組成部份
作者:Ron Wilson

測試成本已成為晶片設計的一個主要問題，相信這一點沒有人會提出質疑。但真正讓人不解的是這個問題的嚴重性，不僅因為測試成本在某些單晶片系統設計中已是晶片成本最大組成部份，而且有些設計經過判定後發現是不可能測試的。現在我們開始看到，隨著製程的發展，可能會導致某些可測性設計技術失去作用。

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