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[ 2008年7月9日 ]


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可降低下一代IC測試成本的確定性邏輯內建自測技術

在70年代，隨著微處理器的出現，電腦和半導體供應商逐漸認識到，積體電路需要在整個製造過程中儘可能早地進行測試，因為晶片製造缺陷率太高，不能等到系統裝配好後再測試其功能是否正確，所以在IC做好之後就應對它進行測試，一般在自動測試設備上採用模擬完整系統激勵和響應的功能測試方案進行。

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