電子工程專輯

射頻衰減的模擬和測試問題

編者按：由於反射、繞射和局部散射效應，從基地台發出的訊號可能經不同的路徑到達接收機，因而產生了多徑衰減。衰減現象對無線通訊的衝擊問題可以透過智慧設計和全面徹底的測試得到緩解。而採用訊息通道模擬的新型數位實現方案可以降低一些難度太大和成本超高的測試試驗的難度和成本。

請登陸或註冊網站閱讀全文>>

還未註冊? 快速註冊成為電子工程專輯用戶

電子信箱：
密碼：
確認密碼：
公司名：
工作性質：
產品和服務：

點擊此處填寫完整註冊信息，即可免費訂閱電子工程專輯信息速遞，並在線申請訂閱雜誌。

已經註冊? 登錄閱覽全部精彩內容

電子信箱：
密碼：
	登入密碼區分大小寫
	記住我的密碼忘記密碼

	如果您已經是電子工程專輯旗下網站的註冊用戶，請使用您原有的註冊帳號登入，無須再次註冊
電子工程專輯旗下網站：電子工程專輯印度版電子工程專輯英文版電子工程專輯韓文版電子工程專輯簡體中文版模擬混合信號電源系統 Embedded Design India Power Design India 家用娛樂系統手持電子設備工業控制汽車電子設計

如果您已經是電子工程專輯旗下網站的註冊用戶，請使用您原有的註冊帳號登入，無須再次註冊

電子工程專輯旗下網站：

	最新信息
Avago針對固態照明推出高能效1W LED (2009-01-09) 集博發表EM1000可編程控制模組 (2009-01-09) 讓NB隨開即用　Phoenix推HyperSpace方案 (2009-01-09) 快速開機小筆電　2009 CES新熱點 (2009-01-09) 佈局數位家庭　Broadcom祭出完整連線方案 (2009-01-09) 鑫源盛分享與Osram合作之高瓦數LED路燈安裝實例 (2009-01-09) Autodesk與宜蘭縣政府共同啟動台灣首個e-City計畫 (2009-01-09) 相機模組成長力道強勁　光寶08年營收亮眼 (2009-01-09)

論壇慶周年 New!

論壇慶周年
留言贏大獎

專題總匯

• 設計揭密

• 設計技巧

• 關鍵數據

• 線上專題

• 技術廣角

• 下載中心

• 活動訊息

• 展會報導

熱門關鍵字

• RFID

• 數位相框

• gphone

• LED

• WiMax

• MEMS

• 太陽能電池

eMedia Asia	EE Times - Asia\|EE Times - India\|\|
環球資源	\|\|\|Electronic Components\|Computer Products\|Trade Show Center
TechInsights	EE Times\|ESM Online\|EE Times JAPAN