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[ 2008年7月25日 ]

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測試嵌入式記憶體的標準技術

編者按：隨著SoC設計朝記憶體比例大於邏輯部份比例的方向發展，高品質的記憶體測試策略顯得尤為重要。記憶體內建自測試(BIST)技術以合理的面積佔用來對單個嵌入式記憶體進行徹底的測試，可提高DPM、產品品質及良率，因而正成為測試嵌入式記憶體的標準技術。

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