無向量測試是測試高速I/O的最佳方法
作者:Bernd Laquai

半導體晶片製造商必須解決以下這道難題，即如何以具成本效益的方式測試嵌入在大型數位系統單晶片中的多個多通道高速I/O介面(如PCI Express、HyperTransport和Infiniband)。雖然結合了封閉迴路業的晶片上內建自測試(BIST)被廣泛地用來替代昂貴的自動測試設備(ATE)，但它仍具有高速類比部份缺陷覆蓋率不高的不足，而這將嚴重影響整體產品的品質。