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用跳變故障測試技術檢測時延引起的缺陷
作者:Vinay B. Jayaram, Jayashree Saxena, Kenneth M. Butler

編者按：在檢測因時延導致的缺陷方面，傳統的功能模式測試方法日益顯得不切實際，而基於掃描的跳變故障測試技術則應用得越來越多。在測試投入受限的情況下，可用低成本測試儀實現2種針對跳變故障模型的流行檢測方法，並能達到全速測試的大多數要求。

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