| 電源網格的電壓下降和電遷移效應分析 |
|
積體電路電源分配系統的用途是提供電晶體執行晶片邏輯功能所需的電壓與電流。在0.13微米以下製程技術時，IC設計師不能再想當然地認為VDD和VSS網路設計是正確的，必須進行詳盡的分析才能確認他們的電源分配方法是否真的具有強韌性。VDD網路上的電壓下降(IR)和VSS網路上的地線反彈會影響設計整個時序和功能，如果忽視它們的存在，很可能導致晶片設計失敗。電源網格中的大電流也會引起電遷移(EMI)效應，在晶片的正常壽命時間內會引起電源網格的金屬線性能劣化。這些不良效應最終將造成代價不斐的現場故障和嚴重的產品可靠性問題。
請登陸網站閱讀全文>> |
| |
|
 |
| 如果您已經是電子工程專輯旗下網站的註冊用戶，請使用您原有的註冊帳號登入，無須再次註冊 |
|
|
|
|
|
|
