| 解決多匯流排系統級晶片測試問題的多域方法 |
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多匯流排IC設計迅速涌現將使測試過程更為複雜，對於基於多時脈域和高速匯流排的複雜IC設計，傳統的ATE方法缺乏必要的多域支援和足夠的性能以確保快速的測試開發和高效能。本文提出在測試複雜的多域IC過程中，可以使用單周期和多周期模式策略。透過將適用的模式策略與在這些平台中有效使用的高級ATE工具相結合，測試工程人員可為高性能IC(如北橋)設計更有效的測試解決方案。
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