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FEI與Zyvex簽定聯合開發奈米級晶片探測協議

美國Zyvex公司日前表示正和晶片儀器製造商FEI合作，為奈米級IC的電子探測量提供聯合解決方案，根據協議，FEI的檢測設備將採用其離子束分析工具和Zyvex公司奈米處理和探測技術；雙方還將共享圍繞該檢測設備的市場行銷、銷售以及應用工程資源

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