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Credence推GlobalScan-I系統解決複雜設計和成品率問題


Credence Systems日前發佈一套可用於元件實體分析和定位製程性能成品率問題的新型積體電路診斷系統──GlobalScan-I。新產品能鑒別出通常被測試失效分析和調試方法遺漏的失效源，這一特點可以實現快速的設計修正，從而降低光罩重加工成本並縮短產品進入量產時間。

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