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[ 2008年7月7日 ]


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結構測試儀中的向量生成原理

深次微米和奈米設計中出現了新的缺陷類型，僅開發和使用功能性向量已經無法滿足對產品測試的實際需求。而掃描、AC掃描、邏輯內建自測試(LBIST)和記憶體BIST這類結構測試方法，已經為理解設計規格、識別生產和設計中的缺陷、描繪和監控產品生產過程以及加速產品上市提供了一種更加有效的方法。

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