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ASIC的嵌入式測試與量測將成為明日之星


一些重要元件和系統的軟、硬體，不論在整合或複雜的程度上都有不斷提高的趨勢。驗證系統行為特性的正確與否是一項重要的工作，然而系統資料與控制系統間的密切互動，以及在正常操作時系統控制狀態的序列的不斷成長，導致上述工作變得愈來愈困難。

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