消息驅動測試平台可以改善測試覆蓋率
作者:Robert Schenk, Array Electronics

傳統的測試平台實現只能按順序設置工作參數，無法動態響應被測設備的要求。因此這種測試方法會遺漏軟體和硬體之間的某些複雜時序交互。隨著FPGA功能的逐漸強大，軟體和FPGA之間的交互資訊量也在不斷增加。本文討論的以消息驅動(message driven)的測試平台能夠模擬FPGA實際執行環境對FPGA進行模擬測試。該方法除了能為測試平台所要求的實體介面模型建模外，還能對控制FPGA的部份軟體進行建模。因此允許人們在測試平台和FPGA之間設立動態交互管道，因而改善FPGA的測試覆蓋率。