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Virage Logic推出嵌入式記憶體自測試和自修復解決方案


Virage Logic公司推出第三代STAR (Self-Test and Repair)儲存系統，據稱此為唯一一款實現商用的嵌入式記憶體自測試和自修復解決方案，STAR記憶體系統中嵌入的ECC電路採用單錯糾正、雙錯檢測(SEC-DED)方法，可自動檢測和糾正軟體錯誤，提高可靠性

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