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採用奈米碳管的掃描探針顯微鏡問世

International Sematech與Xidex公司日前透露，已開發出採用奈米碳管的掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope，SPM)技術。該技術將增強原子力顯微鏡(atomic force microscopy，AFM)在未來元件工程設計和製造領域的應用需求，而AFM是SPM的一種形式。

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