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安捷倫推出兩款DC/RF/Pulse參數測試系統

安捷倫(Agilent)新近推出Agilent 4075及4076 DC/RF/Pulse參數測試系統，該系統所提供的彈性可以準確地量測出65nm等先進製程技術所製造的新元件結構特性，例如超薄閘極氧化層MOSFET，或在通訊應用中使用的高速半導體元件等。

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