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新興公司欲將統計良率建模導入IC設計流程

新興公司Ponte Solutions日前宣佈，將投入於把統計良率模型(statistical yield modeling)導入到IC設計流程內。該公司旨在解決惱人的可製造性設計(DFM)問題之一，即將精確的代工廠(foundry)資訊交到設計師的手中。

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