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安捷倫推出整合CV及IV量測的元件分析儀


安捷倫科技(Agilent)日前推出一套Windows架構的半導體元件分析儀Agilent B1500A，可將電容相對於電壓(CV)與電流相對於電壓(IV)等兩種量測性能整合於單一儀器中，不僅有助於節省半導體測試時間，同時還能提高生產力。此外，這套完整並可擴充的參數特性量測分析解決方案，還可協助處理分析65奈米以下的微影(Lithography)製程技術。

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