登錄電子工程專輯網站，時刻處於電子設計的潮流尖端 .

Global sources

Electronic Engineering Times

首頁 |

登錄 | 現在註冊

[ 2008年7月9日 ]

產品新知 | 新聞和趨勢 | 技術文庫 | 應用實例 | 電子工程人物 | 電子工程辭典 | 技術專刊 | 研究報告 | 論壇 | 本期雜誌 | 線上研討會

EDA/IC設計 | 製程/製造 | 測試/封裝 | 感測技術 | 放大/調節/轉換 | RF/無線 | 數位訊號處理 | 控制技術 | 網路設計

介面設計 | 緩衝/儲存技術 | 功率設計 | EMI/EMC設計 | 光電及顯示技術 | 嵌入式設計 | 可程式邏輯 | 安全設計 | 設計測試


用戶登錄	首頁 / 用戶登錄

高效實現手機RF測試的技巧

現今的手機生產，成本壓力越來越大，生產周期卻日益縮短，這就要求產品測試必須更加快速高效。為尋找簡單有效的測試方法，本文討論了手機生產過程中的兩個基本測試階段：模組測試階段和成品測試階段。

請登陸網站閱讀全文>>

電子信箱

密碼

登入密碼區分大小寫

記住我的密碼忘記密碼?

如果您已經是電子工程專輯旗下網站的註冊用戶，請使用您原有的註冊帳號登入，無須再次註冊

電子工程專輯旗下網站：

• 電子工程專輯英文版 • 電子工程專輯印度版 • 電子工程專輯簡體中文版 • 電子工程專輯韓文版
• 手機設計 • 汽車電子設計 • 媒體播放器 • 電源系統
• 工業控制 • 模擬混合信號 • 家用娛樂系統 • Embedded Design India
• Power Design India

最新信息

•
《2008年嵌入式市場研究報告》出爐 (2008-07-09)

•
IDC：台首季伺服器市場營收下滑 (2008-07-09)

•
明基等台灣廠商搶攻MID藍海商機 (2008-07-09)

•
Tektronix DisplayPort測試方案通過驗證 (2008-07-09)

•
WitsView：七月上旬IT面板價格驟降 (2008-07-09)

•
CSR與Skyhook攜手開發Wi-Fi定位技術 (2008-07-09)

•
NXP：從晶片製造端推動環保節能 (2008-07-09)

•
IIC-Taiwan國際大廠雲集展會內容豐富可期 (2008-07-09)

專題總匯

• 設計揭密

• 設計技巧

• 關鍵數據

• 線上專題

• 技術廣角

• 下載中心

• 活動訊息

• 展會報導

熱門關鍵字

• RFID

• 數位相框

• gphone

• LED

• WiMax

• MEMS

• 太陽能電池

eMedia Asia	EE Times - Asia \| EE Times - India \| \| \| IIC-Taiwan
環球資源	\| \| \| Electronic Components \| Computer Products \| Trade Show Center \| China Sourcing Fairs
TechInsights	EE Times \| ESM Online

RSS 新聞閱讀器

| 意見回饋 | 網站導覽 | 協助 | 關於我們 | 隱私政策 | 聯繫我們 | 使用條款 | 安全承諾
Copyright © 2008 eMedia Asia Ltd. 本網站所有內容均受版權保護。
未經版權所有人明確的書面許可，不得以任何方式或媒體翻印或轉載本網站的部分或全部內容。.