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在通用CPU晶片中採用DFT技術


可測試性設計技術(DFT)在積體電路設計中已經獲得廣泛使用，它能提高訊號的可控制性和可觀察性。該技術在原有設計中插入額外的邏輯，這些邏輯在測試模式下執行不會影響功能。如何讓所有這些測試邏輯都能和諧工作，並在較少面積和較低性能開銷條件下獲得較高故障覆蓋率，對DFT來說是兩大主要問題。

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