用戶登錄 首頁 / 用戶登錄

MCP日益複雜 安捷倫推出專門的測試解決方案


安捷倫科技(Agilent Technologies)在Semicon West展會上推出它的記憶體測試系統方案。該系統旨在解決多晶片封裝(MCP)的使用急劇上升所帶來的問題,將能夠對封裝好的MCP進行單插入高度平行的全速測試。

請登陸網站閱讀全文>>

電子信箱:
密碼: 登入密碼區分大小寫
記住我的密碼 忘記密碼
 
如果您已經是電子工程專輯旗下網站的註冊用戶,請使用您原有的註冊帳號登入,無須再次註冊

電子工程專輯旗下網站:


專題總匯
 •   設計揭密
 •   設計技巧
 •   關鍵數據
 •   線上專題
 •   技術廣角
 •   下載中心
 •   活動訊息
 •   展會報導

熱門關鍵字
 •   RFID
 •   數位相框
 •   gphone
 •   LED
 •   WiMax
 •   MEMS
 •   太陽能電池
返回頁首