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[ 2008年7月25日 ]

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MCP日益複雜　安捷倫推出專門的測試解決方案

安捷倫科技(Agilent Technologies)在Semicon West展會上推出它的記憶體測試系統方案。該系統旨在解決多晶片封裝(MCP)的使用急劇上升所帶來的問題，將能夠對封裝好的MCP進行單插入高度平行的全速測試。

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