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Metryx提供具有原子層測量精密度的工具

Metryx推出一種手動非破壞性研發測量工具，其精密度可達到原子層測量至7埃氧化物。這種易於使用的Metryx Monitor工具適用於MEMS和半導體研發產品，以原子層精密度測量材料特色。

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