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可製造性設計(DFM)需要更清楚的定義

上網時間: 2005年12月02日  打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:可製造性設計  DFM  IC設計工具  DFY  design-for-yield 

幾乎每個星期,我都會收到一些關於可製造性設計(DFM)的新聞,包括新創公司、新工具或新技術等各方面。在業界如此關注DFM的這股趨勢中,我卻發現了一個問題:這麼多家公司都往不同的方向發展,這讓我們實在很難搞清楚DFM到底是什麼?

Richard Goering

DFM的目標是很明確的:使設計人員所設計的晶片能夠在良率可接受的範圍內,正確無誤地被製造出來。但這個問題是如此的複雜,現在的情況就好比是瞎子摸象一樣,無法得到全貌。有些人認為DFM就是解析度增強技術,諸如光學近似修正(OPC)。有些人認為DFM是有關良率的模擬、分析、或最佳化。也有人指出,需要對因製程、電壓與溫度所造成的製造變異性進行建模,以便更系統化的瞭解製程的影響。

這麼說來,一個能判斷出晶片是否能製造出來的統計時脈分析工具,就算是DFM工具嗎?那麼,漏電流或訊號完整性分析工具,是不是也應該是DFM工具呢?若照這樣的定義來看,事實上每一樣IC設計工具都與DFM有一定的關聯。

也因此,即使是Gartner Dataquest的EDA首席分析師Gary Smith也認為DFM這個名詞的使用已經太過浮濫,打算要從其研究中將此類別刪除。他說,“我們會再等一年,如果業界情況仍是如此,我想把目前的DFM研究類別更名為DFY(design-for-yield),並把DFM這個名詞剔除。因為,現在的情況使我們在資料收集時遭遇很大的麻煩。”

對設計人員來說,他們並不希望成為製造技術的專家。設計人員只希望他們的晶片能夠正確地製造出來,但同時最好能用現有的工具來解決問題。

現在,DFM的單點工具到處都是,但完備的設計流程尚未建立。接下來,業者應該在包括OpenAccess以及Oasis標準中投注更多的努力,而不是只是瘋狂地推出貼上DFM標籤的單點工具。

作者:Richard Goering是EE Times的設計自動化專欄主編。




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