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明導推出有助於提高良率的測試診斷工具
作者: 葛立偉, Richard Goering

雖然掃描測試數據可以為診斷提供起點，但是隔離故障位置並識別缺陷類型卻極為困難。明導國際(Mentor Graphics)公司發佈的YieldAssist診斷工具希望能夠簡化這一過程。

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