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[ 2008年7月9日 ]

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對使用新型測試技術和儀器的建議

隨著半導體製造商轉向65奈米技術並展望更小節點，嚴峻的測試挑戰也開始浮出檯面。傳統的直流測試方法已經無法再為元件的性能和可靠性提供準確的模型。新方法要求能夠加速完成測試的新型儀器和軟體。

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