用戶登錄 首頁 / 用戶登錄

創意電子推出90奈米ARM926EJ測試晶片UTP0010A


創意電子(Global Unichip,GUC)推出90奈米ARM926EJ硬核(hard-macro)及其測試晶片(testchip) UTP0010A,為客戶大幅縮短系統設計的建構時程,並為ARM核心整合的過程降低許多風險。

請登陸或註冊網站閱讀全文>>


如果您已經是電子工程專輯旗下網站的註冊用戶,請使用您原有的註冊帳號登入,無須再次註冊

電子工程專輯旗下網站:

最新信息

專題總匯
 •   設計揭密
 •   設計技巧
 •   關鍵數據
 •   線上專題
 •   技術廣角
 •   下載中心
 •   活動訊息
 •   展會報導

熱門關鍵字
 •   RFID
 •   數位相框
 •   gphone
 •   LED
 •   WiMax
 •   MEMS
 •   太陽能電池
返回頁首