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[ 2008年7月25日 ]

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創意電子推出90奈米ARM926EJ測試晶片UTP0010A

創意電子(Global Unichip，GUC)推出90奈米ARM926EJ硬核(hard-macro)及其測試晶片(testchip) UTP0010A，為客戶大幅縮短系統設計的建構時程，並為ARM核心整合的過程降低許多風險。

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