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[ 2008年7月25日 ]


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Agilent 4070參數測試系統獲力晶採用

安捷倫表示，Agilent 4070系列高精密參數測試系統已獲力晶半導體12M新廠採用，主要用來執行產品的晶圓參數測試(Wafer Acceptance Test，WAT)。Agilent 4070是一套穩定的高輸出(throughput)完整參數測試解決方案，能完全符合業界對於產品之嚴格參數測試需求。

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