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[ 2008年7月9日 ]

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KLA-Tencor推新型磁性度量系統

KLA-Tencor日前針對硬碟機(HDD)以及半導體記憶體市場，發表了第三代磁性度量系統MRW3。該系統以MRW200平台為架構，能測量產品中HDD讀寫頭及磁電阻式隨機存取記憶體(MRAM)的磁性質，以利生產控制並儘早偵測到對良率有不利影響的製程問題。

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