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在設計流程詳細規劃以控制IC功耗
在許多設計中，功耗已成為一項關鍵參數。在高性能設計中，超過臨界點溫度而產生的過多功耗會削弱可靠性。在晶片上表現為電壓下降，由於晶片上邏輯不再像理想電壓條件下執行的結果
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