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滿足嵌入式系統電路特性測試需求的JTAG技術
作者:Brian Stearns

IEEE 1149.1邊界掃描測試標準是一種用來進行複雜IC與電路板上的特性測試的業界標準方法，大多數複雜電子系統都以這種方式運用了IEEE1149.1(JTAG)標準的優勢

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