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[ 2008年7月7日 ]


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Credence推Sapphire D-40　降低晶片測試成本

科利登系統(Credence)在稍早前的美西半導體材料與設備展(Semicon West)上，展示了該公司Sapphire系列的最新成員Sapphire D-40系統。該系統整合了類比，數位，混合訊號和射頻測試儀器，並擴展了類比和混合訊號的可升級能力，能更好地解決SiP及MCP產品所帶來的測試挑戰與測試成本之間的矛盾。

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