| Cadence強化Encounter Test測試與良率診斷技術能力 |
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Cadence憑藉其最新的數據壓縮以及良率診斷技術，推出新版Cadence Encounter Test，透過為非專有的on-chip exclusive-or (XOR)測試數據壓縮結構提供更廣泛的支援，解決在製造高品質矽晶片過程中的費用上漲問題。此新型數據壓縮性能增強了自動化測試向量生成(ATPG)和診斷產品之間的多廠商互通作業性，並支援使用一站式診斷流程。
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