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奈米材料與元件的電氣測量方法
作者:James Niemann

被動元件的電氣測量通常遵循以下簡單流程：透過某種方式對樣品進行激勵，並測量其對激勵的響應。對奈米微粒和元件來說，這種通用的源－測量測試方法可以定量測量阻抗、電導和電阻，這些測量值揭示材料的關鍵性能。本文討論了在實現這些測量時需要考慮的實際問題以及測量拓樸結構選擇。

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