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如何迎戰奈米級IC設計？　頂級EDA使用者提建言
作者:Richard Goering

設計自動化大會(DAC)的小組討論吸引了來自全球最大的EDA用戶的一些代表，談論的重點常常轉向製程可變性(process variability)的影響，但是，設計成本、晶片密度和電源管理也引起了代表們的高度關注。

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