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探討奈米級IC設計　業界專家「熱」戰
作者:Dylan McGrath

在設計自動化大會(DAC)一場名為「Entering the Hot Zone」的座談會上，德州儀器(TI)資深技術團隊成員兼45nm平台經理Robert Pitts提出了一個一般認知不同的看法，指出高溫對晶片設計影響並不是先進IC設計必須立即解決的問題。

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