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[ 2008年7月24日 ]

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利用三點Delta測量方法進行低電壓測量

由於消費者希望產品速度更快，功能更加豐富，同時體積越來越小，因而電子零組件的外形尺寸在不斷縮小。因為這些電子零組件的外形尺寸很小，它們通常具備有限的功率處理能力。因此，當擷取這些零組件的電氣參數的時候，需要用小的測試訊號以防止零組件被擊穿或受到其它損傷。

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