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[ 2008年7月25日 ]

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無線射頻晶片的收發器測試挑戰

隨著複雜無線用途的需求正不斷推動下一代元件性能的快速演進，在晶片生產過程中，測試的重要性正日益顯現。針對不同類型晶片的測試，必須採用不同的測試策略和測試方法。本文介紹了相對簡單的記憶體和邏輯晶片測試，以及較複雜混合訊號和射頻/無線晶片測試的獨特測試要求。

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