在設計流程中盡早識別潛在DFT問題
作者:Rohit Kapur, Chris Allsup

隨著晶片設計複雜程度的日益增加，半導體產業已經開始尋求更具成本效益的方式來應對高品質測試挑戰。近年來，許多公司開始逐步擺脫對維修費用昂貴的內部測試工具的依賴，改用現成的商業自動化測試解決方案來進行測試合成和模式產生。雖然這些EDA產品減輕了公司的負擔，使他們不必再開發和維護不屬於自身的關鍵核心能力專用功能，但這些產品功能往往較為普通，以致於需要相當程度的定製改造，才能支援各種設計風格和測試方法。事實證明DFT規則檢查器像黏著劑一樣將各方面結合在一起。讓我們看看為何會如此。