| ARM嵌入式記憶體測試修復方案可提升奈米製程良率 |
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ARM推出新款先進emBISTRx嵌入式記憶體測試與修復系統，整合了內建自我測試(Best-in-Self-Test，BIST)及內建自我修復(Best-in-Self-Repair，BISR) IP，使Advantage與Metro系列記憶體在邁入45奈米、65奈米及90奈米製程時，能提高整體晶片良率、降低晶片成本、提高獲利，以及增進製造測試的品質。
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