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新一代製程挑戰　測試比設計更棘手
作者:Tets Maniwa

新一代的晶片製程除了將使元件密度大幅提高，也將產生因製程及元件變異性所帶來的挑戰，而且將比這20年來所有的製程技術挑戰更嚴峻。

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